端羟基有机硅分子的羟值测定方法

专利名称:端羟基有机硅分子的羟值测定方法

专利类型:发明专利 ZL 201410652402.X

专利授予单位:中华人民共和国国家知识产权局

专利权人:华东理工大学

发明人:许翔;郑安呐;周晓东;许治昕;陈培

授权公告日:2016.07.06

  

专利简介:一种端羟基有机硅分子的羟值测定方法,是在催化剂存在的条件下让端羟基有机硅分子发生缩合反应,通过吸水剂收集端羟基缩合产生的水,换算得到端羟基有机硅分子的羟值。本发明http://www.pss-system.gov.cn/sipopublicsearch/servlet/rm/DownLoadServlet?rid=3568293654&blobId=3086371966的方法所用到的仪器、原料均为实验室常用仪器、原料,可以很方便的检测出样品中羟基含量;由于采用缩聚的方法检测,得到的羟基含量更接近于有效羟基含量。


网页发布时间: 2019-01-03