专利名称：端羟基有机硅分子的羟值测定方法

专利类型：发明专利 ZL 201410652402.X

专利授予单位：中华人民共和国国家知识产权局

专利权人：华东理工大学

发明人：许翔;郑安呐;周晓东;许治昕;陈培

授权公告日：2016.07.06

专利简介：一种端羟基有机硅分子的羟值测定方法，是在催化剂存在的条件下让端羟基有机硅分子发生缩合反应，通过吸水剂收集端羟基缩合产生的水，换算得到端羟基有机硅分子的羟值。本发明的方法所用到的仪器、原料均为实验室常用仪器、原料，可以很方便的检测出样品中羟基含量；由于采用缩聚的方法检测，得到的羟基含量更接近于有效羟基含量。